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半导体温控款折光仪

详细介绍

一 参数:

  1. 折射率测量范围(nD):1.30000~1.70000
  2. 折射率测量分辨率(nD): 0.00001
  3. 折射率示值误差(nD): ±0.00002
  4. Brix测量范围:0.00~100.00%
  5. Brix测量分辨率:0.01%
  6. Brix示值误差:±0.01%
  7. 温度控制方式:帕尔贴控温
  8. 温度控制范围:5.0~80.0℃
  9. 温度控制精度:0.2℃
  10. 温度测量范围:0.0~95.0℃
  11. 温度测量分辨率:0.1℃
  12. 温度测量精度:0.3℃
  13. 显示方式:7英寸彩色触摸屏;
  14. 数据输出方式:RS232和USB
  15. 测量数据存储容量:2000条
  16. 棱镜:硬质玻璃
  17. 工作温度范围:10~35℃;
  18. 工作湿度范围:≤85%RH;
  19. 电源电压:220V±5%,频率:50±1Hz;
  20. 仪器尺寸:400mm×260mm×190mm;
  21. 仪器净重:5kg。

特点:

  1. 开机无需自校
  2. 内置10种以上测量方法
  3. 2000组数据
  4. 符合GLP标准

 

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